RFID读卡操作过程

　　读写器从标签（卡片）获得信息有两种情况：
　　
　　①卡片进入磁场后主动循环发送内部信息，如EM4100或Hitags卡处于TTF模式；
　　
　　②卡片并不主动发送信息，而是需要读写器发送读取命令之后卡片才会将存储数据发出，而且一般为一次性发送，比如处于RTF模式的Hitags卡。
　　
　　无论哪种情况，读写器天线感应到信息之后，经过耦合、、等处理之后，输送给(MCU)的都是以一定格式、速率传输的数字基带码流，MCU只要根据编码特征，正确同步和接收即可。不失一般性，这里我们以EM4100卡为例介绍读卡程序的编制流程。
　　
　　由于在系统中，曼彻斯特编(MC)码的应用非常广泛，因而以MC码为例。根据EM4100卡数据结构特点，卡片进入磁场后发送数据，连续9位“l”作为头数据，是读取数据时的同步标识；DOO～D93位是信息位；PO～P9是行奇校验位，PCO~PC3是列奇校验位，最后位“0”是结束标志。EM4100这种数据结构非常有利于判断读出数据的正确性。
　　
　　上图所示为EM4100卡进入磁场后，自动循环发送的数据流码型。其中前9位为l，是卡的头数据，第10-63位为数据及校验位，可能为0或1，第64位为结束位0，之后循环。由此可知，要想正确地读卡，首先就要正确的找到数据1（9位“1”的同步头），根据曼码规则下跳为1，故可以检测高并等其变低，连续检测9个1以获得同步，如中图所示。
　　
　　不过，这种方法有可能会把0错检为1，因为0也存在高电平，尤其是在连续O或l出现时，其中不携带信息的空跳沿（见上图）会给同步带来困难。而且，由于数据流中存在很多个l码，在同步过程中，每次检测到1个l码都要进入下一步的循环，时间浪费较大。
　　
　　同样由上图我们注意到，当出现连续的01（或10）时，会有持续一个的高（或低）电平，而EM4100卡最后一位为0，由于数据是循环发出的，我们可以结合这一位和同步头来联合检测，首先找‘01’码，其流程如右图所示。
　　
　　无需定量计算，我们可以想象在全部64位数据中出现01码的可能性远低于出现单个1的概率，因而结合停止位检测的方法要优于直接检测，同步时间可以大大缩短，在笔者的实际应用中也证实了这一点。
　　
　　检测完同步头后，即可开始读取数据。由于系统已经同步，读取数据非常简单，只要检测前半周期的电平即可，见下图。
　　
　　值得注意的一点是，虽然根据理论计算，数据流中1位码元的周期T=64×(l/125k)=512μs，但在实际观测中，并非完全理想，最好先用示波器观测其波形周期，以便更好的设计各延时子程序。